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JESD22-A119A-2015低溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)
說(shuō)明:在不加任何偏壓情況下,藉由模擬低溫環(huán)境評(píng)定產(chǎn)品于長(zhǎng)時(shí)間承受與對(duì)抗低溫的能力,此試驗(yàn)過(guò)程不施加偏壓,試驗(yàn)結(jié)束后回到常溫才能夠進(jìn)行電性測(cè)試
推薦設(shè)備:TEC
IEC 60068-2-3 試驗(yàn)方法 Ca:穩(wěn)態(tài)濕熱
1.測(cè)試目的:
本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其它產(chǎn)品于定溫(constant temperature)、高相對(duì)濕度環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性。
2.范圍
本試驗(yàn)法可同時(shí)適用于生熱(heat-dissipating)及不生熱(non heat -dissipating)試件。
3.無(wú)限制。
4.測(cè)試步驟:
4.1 試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
4.2 試件放入試驗(yàn)柜中之情況必須符合相關(guān)規(guī)范,試件入柜后為避免在試件上形成水珠,最好事先將試件溫度預(yù)熱至試驗(yàn)柜中之溫度條件。
4.3 試件依規(guī)定之駐留加以保溫。
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